Automatizacion del test parametrico como herramienta de analisis y desarrollo de tecnologia microelectronica

  1. PERELLO GARCIA, CARLES
Dirigida por:
  1. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Director/a

Universidad de defensa: Universitat Autònoma de Barcelona

Año de defensa: 1992

Tribunal:
  1. Francisco Serra Mestres Presidente/a
  2. Manuel Lozano Fantoba Secretario/a
  3. José Millán Gómez Vocal
  4. Juan Enrique Carceller Beltrán Vocal
  5. Carles Ferrer Ramis Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 35695 DIALNET

Resumen

El aumento en la densidad y superficie ocupada por los circuitos integrados obliga a optimizar la fase de test.En el trabajo se propone una metodologia que tiende a automatizar las etapas de diseño de estructuras de test, la adquisicion de parametros a partir de medidas electricas en estas y el analisis estadistico de los mismos.Se ha desarrollado una libreria de estructuras de test electrico que permite generarlas para la tecnologia que sea objeto de estudio.Se ha puesto a punto un sistema de cartografiado y adquisicion de medidas que incluye una libreria de caracterizacion basica de tecnologia y que incluye un extractor de parametros para el modelo spice level 3 de simulacion de circuitos.