Dependence of the optical cross section of interface states on the photon energy at Si-SiO2 structures

  1. Herms, A.
  2. Morante, J.R.
  3. Samitier, J.
  4. Cornet, A.
  5. Cartujo, P.
  6. Lora-Tamayo, E.
Revista:
Surface Science

ISSN: 0039-6028

Año de publicación: 1986

Volumen: 168

Número: 1-3

Páginas: 665-671

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0039-6028(86)90898-8 GOOGLE SCHOLAR
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