A model for the generation recombination noise in junction field effect structures application to four-gate transistors

  1. Tejada, J. A. Jimenez
  2. Rodriguez, A. Luque
  3. Godoy, A.
Colección de libros:
NOISE AND FLUCTUATIONS
  1. Tacano, M (coord.)
  2. Yamamoto, Y (coord.)
  3. Nakao, M (coord.)

ISSN: 0094-243X

ISBN: 978-0-7354-0432-8

Año de publicación: 2007

Volumen: 922

Páginas: 105-106

Congreso: 19th International Conference on Noise and Fluctuations

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS