Characterization of oxygen related defects in silicon p-n junctions

  1. Jiménez Tejada, J.A.
  2. López Villanueva, J.A.
  3. Godoy, A.
  4. Gómez-Campos, F.M.
  5. Rodríguez-Bolívar, S.
  6. Carceller, J.E.
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Año de publicación: 2005

Volumen: 2005

Páginas: 37-40

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504300 GOOGLE SCHOLAR
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