Characterization of oxygen related defects in silicon p-n junctions
- Jiménez Tejada, J.A.
- López Villanueva, J.A.
- Godoy, A.
- Gómez-Campos, F.M.
- Rodríguez-Bolívar, S.
- Carceller, J.E.
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Año de publicación: 2005
Volumen: 2005
Páginas: 37-40
Tipo: Aportación congreso