Effects of oxygen related defects on the electrical and thermal behavior of a n+ - p junction
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2004
Volum: 95
Número: 2
Pàgines: 561-570
Tipus: Article
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2004
Volum: 95
Número: 2
Pàgines: 561-570
Tipus: Article