Effects of oxygen related defects on the electrical and thermal behavior of a n+ - p junction
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 95
Nummer: 2
Seiten: 561-570
Art: Artikel
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 95
Nummer: 2
Seiten: 561-570
Art: Artikel