Effects of oxygen related defects on the electrical and thermal behavior of a n+ - p junction

  1. Jiménez Tejada, J.A.
  2. Godoy, A.
  3. Carceller, J.E.
  4. López Villanueva, J.A.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 2004

Volume: 95

Número: 2

Páxinas: 561-570

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.1633344 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus