Electron velocity overshoot in strained Si/Si1-xGexMOSFETs
ISSN: 1930-8876
ISBN: 9782863321966
Any de publicació: 1996
Pàgines: 413-414
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 1930-8876
ISBN: 9782863321966
Any de publicació: 1996
Pàgines: 413-414
Tipus: Aportació congrés