Inversion charge modeling in n-type and p-type Double-Gate MOSFETs including quantum effects: The role of crystallographic orientation

  1. Balaguer, M.
  2. Roldán, J.B.
  3. Donetti, L.
  4. Gámiz, F.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2012

Volume: 67

Número: 1

Páxinas: 30-37

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2011.09.006 GOOGLE SCHOLAR
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