In-depth study of quantum effects in SOI DGMOSFETs for different crystallographic orientations
- Balaguer, M.
- Roldán, J.B.
- Gamiz, F.
ISSN: 0018-9383
Any de publicació: 2011
Volum: 58
Número: 12
Pàgines: 4438-4441
Tipus: Article
ISSN: 0018-9383
Any de publicació: 2011
Volum: 58
Número: 12
Pàgines: 4438-4441
Tipus: Article