Modeling the equivalent oxide thickness of Surrounding Gate SOI devices with high-κ insulators
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 2008
Volum: 52
Número: 12
Pàgines: 1854-1860
Tipus: Article
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 2008
Volum: 52
Número: 12
Pàgines: 1854-1860
Tipus: Article