Modeling the equivalent oxide thickness of Surrounding Gate SOI devices with high-κ insulators
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 2008
Volume: 52
Número: 12
Páxinas: 1854-1860
Tipo: Artigo
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 2008
Volume: 52
Número: 12
Páxinas: 1854-1860
Tipo: Artigo