A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate MOSFETs including quantum effects

  1. García Ruiz, F.J.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2007

Volumen: 54

Número: 12

Páginas: 3369-3377

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2007.909206 GOOGLE SCHOLAR
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