Coulomb scattering model for ultrathin silicon-on-insulator inversion layers

  1. Gamiz, F.
  2. Jiménez-Molinos, F.
  3. Roldán, J.B.
  4. Cartujo-Cassinello, P.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 80

Nummer: 20

Seiten: 3835-3837

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.1477623 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus