Physical model for trap-assisted inelastic tunneling in metal-oxide-semiconductor structures
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2001
Volum: 90
Número: 7
Pàgines: 3396-3404
Tipus: Article
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2001
Volum: 90
Número: 7
Pàgines: 3396-3404
Tipus: Article