Role of surface-roughness scattering in double gate silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2001
Volum: 89
Número: 3
Pàgines: 1764-1770
Tipus: Article
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2001
Volum: 89
Número: 3
Pàgines: 1764-1770
Tipus: Article