Role of surface-roughness scattering in double gate silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 2001
Volume: 89
Número: 3
Páxinas: 1764-1770
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 2001
Volume: 89
Número: 3
Páxinas: 1764-1770
Tipo: Artigo