A Monte Carlo study on electron mobility in quantized cubic silicon carbide inversion layers

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
  3. López-Villanueva, J.A.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 1997

Alea: 81

Zenbakia: 10

Orrialdeak: 6857-6865

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.365245 GOOGLE SCHOLAR