Merit function segmentation dependence on the isoplanatic patch criterion
- Pizarro, C.
- Diaz, J.A.
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819464279
Datum der Publikation: 2006
Ausgabe: 6342 II
Art: Konferenz-Beitrag
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering