Effects of oxygen related defects on the electrical and thermal behavior of a n+ - p junction
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2004
Volumen: 95
Número: 2
Páginas: 561-570
Tipo: Artículo
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2004
Volumen: 95
Número: 2
Páginas: 561-570
Tipo: Artículo