Surface roughness at the Si-SiO2 interfaces in fully depleted silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1999
Volum: 86
Número: 12
Pàgines: 6854-6863
Tipus: Article
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1999
Volum: 86
Número: 12
Pàgines: 6854-6863
Tipus: Article