Surface roughness at the Si-SiO2 interfaces in fully depleted silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 1999
Alea: 86
Zenbakia: 12
Orrialdeak: 6854-6863
Mota: Artikulua
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 1999
Alea: 86
Zenbakia: 12
Orrialdeak: 6854-6863
Mota: Artikulua