Surface roughness at the Si-SiO2 interfaces in fully depleted silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1999
Volume: 86
Número: 12
Páxinas: 6854-6863
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1999
Volume: 86
Número: 12
Páxinas: 6854-6863
Tipo: Artigo