A model for the drain current of deep submicrometer MOSFET's including electron-velocity overshoot
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 45
Nummer: 10
Seiten: 2249-2251
Art: Artikel
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 45
Nummer: 10
Seiten: 2249-2251
Art: Artikel