A model for the drain current of deep submicrometer MOSFET's including electron-velocity overshoot
ISSN: 0018-9383
Ano de publicación: 1998
Volume: 45
Número: 10
Páxinas: 2249-2251
Tipo: Artigo
ISSN: 0018-9383
Ano de publicación: 1998
Volume: 45
Número: 10
Páxinas: 2249-2251
Tipo: Artigo