A non-destructive method to determine impurity-profiles in non-abrupt p-n junctions with deep levels

  1. Jimenez-Tejada, J.A.
  2. Lopez-Villanueva, J.A.
  3. Cartujo, P.
  4. Carceller, J.E.
Revista:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 1992

Volum: 35

Número: 12

Pàgines: 1729-1736

Tipus: Article

DOI: 10.1016/0038-1101(92)90253-9 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus