A non-destructive method to determine impurity-profiles in non-abrupt p-n junctions with deep levels
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 1992
Volum: 35
Número: 12
Pàgines: 1729-1736
Tipus: Article
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 1992
Volum: 35
Número: 12
Pàgines: 1729-1736
Tipus: Article