A non-destructive method to determine impurity-profiles in non-abrupt p-n junctions with deep levels
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1992
Volume: 35
Número: 12
Páxinas: 1729-1736
Tipo: Artigo
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1992
Volume: 35
Número: 12
Páxinas: 1729-1736
Tipo: Artigo