A non-destructive method to determine impurity-profiles in non-abrupt p-n junctions with deep levels

  1. Jimenez-Tejada, J.A.
  2. Lopez-Villanueva, J.A.
  3. Cartujo, P.
  4. Carceller, J.E.
Zeitschrift:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1992

Ausgabe: 35

Nummer: 12

Seiten: 1729-1736

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0038-1101(92)90253-9 GOOGLE SCHOLAR
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