Modeling the equivalent oxide thickness of Surrounding Gate SOI devices with high-κ insulators
ISSN: 0038-1101
Año de publicación: 2008
Volumen: 52
Número: 12
Páginas: 1854-1860
Tipo: Artículo
ISSN: 0038-1101
Año de publicación: 2008
Volumen: 52
Número: 12
Páginas: 1854-1860
Tipo: Artículo