Role of surface-roughness scattering in double gate silicon-on-insulator inversion layers
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2001
Volumen: 89
Número: 3
Páginas: 1764-1770
Tipo: Artículo
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2001
Volumen: 89
Número: 3
Páginas: 1764-1770
Tipo: Artículo