Deep submicrometer SOI MOSFET drain current model including series resistance, self-heating and velocity overshoot effects
ISSN: 0741-3106
Any de publicació: 2000
Volum: 21
Número: 5
Pàgines: 239-241
Tipus: Article
ISSN: 0741-3106
Any de publicació: 2000
Volum: 21
Número: 5
Pàgines: 239-241
Tipus: Article