Deep submicrometer SOI MOSFET drain current model including series resistance, self-heating and velocity overshoot effects
ISSN: 0741-3106
Ano de publicación: 2000
Volume: 21
Número: 5
Páxinas: 239-241
Tipo: Artigo
ISSN: 0741-3106
Ano de publicación: 2000
Volume: 21
Número: 5
Páxinas: 239-241
Tipo: Artigo