Two-dimensional drift-diffusion simulation of superficial strained-Si/Si1-xGex channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
ISSN: 1071-1023
Argitalpen urtea: 1998
Alea: 16
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 1538-1540
Mota: Artikulua
ISSN: 1071-1023
Argitalpen urtea: 1998
Alea: 16
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 1538-1540
Mota: Artikulua