Coulomb scattering in strained-silicon inversion layers on Si1-xGex substrates
ISSN: 0003-6951
Any de publicació: 1996
Volum: 69
Número: 6
Pàgines: 797-799
Tipus: Article
ISSN: 0003-6951
Any de publicació: 1996
Volum: 69
Número: 6
Pàgines: 797-799
Tipus: Article