Influence of Punch Trough Stop Layer and Well Depths on the Robustness of Bulk FinFETs to Heavy Ions Impact
- Calomarde, A.
- Manich, S.
- Rubio, A.
- Gamiz, F.
Aldizkaria:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Argitalpen urtea: 2022
Alea: 10
Orrialdeak: 47169-47178
Mota: Artikulua