Influence of Punch Trough Stop Layer and Well Depths on the Robustness of Bulk FinFETs to Heavy Ions Impact

  1. Calomarde, A.
  2. Manich, S.
  3. Rubio, A.
  4. Gamiz, F.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Ano de publicación: 2022

Volume: 10

Páxinas: 47169-47178

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3171813 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus