Publicaciones en las que colabora con JUAN ELOY RUIZ CASTRO (10)

2020

  1. Reversible dielectric breakdown in h-BN stacks: A statistical study of the switching voltages

    IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings

2019

  1. Analysis of the statistics of device-to-device and cycle-to-cycle variability in TiN/Ti/Al:HfO2/TiN RRAMs

    Microelectronic Engineering, Vol. 214, pp. 104-109

  2. Distribuciones tipo fase en un estudio de fiabilidad

    TEMat: Divulgación de trabajos de estudiantes de matemáticas, Núm. 3, pp. 63-74

  3. Phase-type distributions for studying variability in resistive memories

    Journal of Computational and Applied Mathematics, Vol. 345, pp. 23-32

2014

  1. Can we learn statistics through a Tablet? Yes, we can: APPES

    BEIO, Boletín de Estadística e Investigación Operativa, Vol. 30, Núm. 2, pp. 181-198