Deep submicrometer SOI MOSFET drain current model including series resistance, self-heating and velocity overshoot effects
ISSN: 0741-3106
Año de publicación: 2000
Volumen: 21
Número: 5
Páginas: 239-241
Tipo: Artículo
ISSN: 0741-3106
Año de publicación: 2000
Volumen: 21
Número: 5
Páginas: 239-241
Tipo: Artículo