Coulomb scattering in strained-silicon inversion layers on Si1-xGex substrates

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
  3. López-Villanueva, J.A.
  4. Cartujo, P.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1996

Volumen: 69

Número: 6

Páginas: 797-799

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.117895 GOOGLE SCHOLAR
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