Influence of Punch Trough Stop Layer and Well Depths on the Robustness of Bulk FinFETs to Heavy Ions Impact

  1. Calomarde, A.
  2. Manich, S.
  3. Rubio, A.
  4. Gamiz, F.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2022

Volumen: 10

Páginas: 47169-47178

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3171813 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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